چجوری دستگاه‌های تولید تراشه رو با هم مقایسه کنیم؟ ترفندهای جدید برای تشخیص تفاوت‌ها!

Fall Back

خب رفقا، امروز می‌خوام درباره یه موضوع جالب براتون بگم که مربوط به تولید چیپ‌ و نیمه‌رساناهاست، یعنی همون قطعات کوچیک و باهوشی که تقریبا تو همه وسایل دیجیتال پیدا میشن! داستان از این قراره که تو صنعت ساخت این تراشه‌ها، کلی دستگاه مختلف داریم (که بهشون «ابزار» یا «چَمبِر» هم میگن)، و خیلی مهمه بدونیم این دستگاه‌ها چقدر با هم فرق دارن یا شبیه هم کار می‌کنن.

به این داستان ابزاربه‌ابزار مچینگ یا همسان‌سازی میگن (Tool-to-Tool Matching یا TTTM). منظور اینه که بفهمن خروجی دستگاه‌های مختلف اصلاً هماهنگه یا یکی‌شون داغونه و اون یکی معرکه کار می‌کنه! خب، چرا این اصلا مهمه؟ چون اگه یه ابزار یه ذره با بقیه فرق داشته باشه، کیفیت تراشه‌های ساخته شده ممکنه خیلی متفاوت بشه، و این وسط مشتری ناراضی می‌شه و کلی ضرر مالی میاد. پس این همسان‌سازی حسابی مهمه.

حالا روش‌های سنتی چی بودن؟ معمولاً میان یا تنظیمات ثابتی از هر دستگاه می‌گیرن یا یه «نمونه طلایی» انتخاب می‌کنن (مثلا یه دستگاهی که فکر می‌کنن بهترینه رو مرجع قرار میدن) و همه رو با اون مقایسه می‌کنن. اما این روشا چندتا مشکل داشتن: اولا که گرفتن اون داده‌های مرجع یا همون Golden Reference اصلا راحت نیست و تو خط تولید واقعی ممکنه دسترسی بهش نداشته باشن؛ دوم اینکه این روش‌ها وقتی دستگاه‌ها مدل و برندشون فرق داره (یه اصطلاح فنی براش هست: “heterogeneous setting” یعنی تو محیطی که تجهیزات مختلف و متنوعن) دیگه جواب نمی‌ده.

حالا نویسنده‌های مقاله اومدن یه راه حل جدید دادن که خیلی باحاله! گفتن به‌جای اینکه دنبال یه مرجع طلایی بگردیم یا تنظیمات ثابت رو بررسی کنیم، بیایم ببینیم داده‌هایی که از هر دستگاه می‌گیریم، چه جور داده‌هایی هستن. ایده‌شون اینه: اگه یه دستگاه مشکل داشته باشه یا با بقیه فرق کنه، معمولاً داده‌هاش «واریانس» بیشتری داره (یعنی مقدارهاش پراکنده‌تره)، یا تعداد “مود”اش بیشتره (مود یعنی اون مقداری که توی یه سری داده بیشتر تکرار میشه. مثلا اگه تو یه کلاس بیشتر نمره ۱۳ باشه، مود میشه ۱۳).

اینا اومدن چندتا روش مختلف ساختن که با استفاده از این شاخص‌ها (یعنی واریانس و تعداد مودها) تفاوت دستگاه‌ها رو حساب کنن؛ به این روش‌ها اصطلاحاً «pipeline تحلیلی» میگن، که یعنی یه مسیر و ترتیب چینش عملیات روی داده‌ها برای تحلیل تفاوت‌ها. برای تست کردنشون هم یه سری آزمایش انجام دادن که خیلی جالبه: مثلاً تو ساده‌ترین حالت، اگه فقط واریانس رو بررسی کنن، ضریب همبستگی داده‌ها (یعنی گرفتن یه عدد بین -۱ و ۱ که نشون میده داده‌ها چقدر به هم مربوطن) بیشتر از ۰.۹۵ شده! یعنی دقیقاً همون جور که می‌خواستن، می‌تونن تفاوت ابزارها رو تشخیص بدن. اگه فقط تعداد مودها رو بررسی کنن، اونم ضریب همبستگی بالای ۰.۵ داشته؛ پس اونم به درد می‌خوره.

حالا اگه بیان و از چندتا ویژگی مختلف با هم استفاده کنن (که به این روش مولتی‌ورییت میگن، یعنی چندمتغیره)، بازم نتیجه‌ها خوب مونده و ضریب‌های همبستگی بالای ۰.۷۵ گرفتن، که واقعا قابل قبوله. یعنی این روشای ترکیبی بازم می‌تونن دستگاه‌هایی که مشکل دارن رو خوب شناسایی کنن.

تو آخر، این بندگان خدا بررسی کردن که بعضی پارامترای تکنیکی که تو الگوریتم‌هاشون هست (بهش میگیم hyper-parameter: یعنی تنظیمات ریزی که می‌تونن روی خروجی مدل تاثیر بذارن) چقدر حساس هستن و روی نتیجه اثر می‌ذارن؛ تو زبون علمی بهش میگن sensitivity analysis. خلاصه بررسیشون نشون داده الگوریتم‌هاشون تو این پارامترها هم خیلی مقاوم هستن و کارشون رو خوب انجام می‌دن.

در نهایت، این مقاله نشون می‌ده نیازی نیست دنبال داده مرجع طلایی بگردیم؛ حتی اگه تجهیزات خط تولید متنوع و شلوغ باشن، با همین ترفندهای آماری (مثل واریانس و مود مود بازی!) می‌تونیم بفهمیم هر دستگاهی سرجاش درست کار می‌کنه یا نه. خلاصه، اگه یه روزی رفتین سراغ مهندسی صنعت نیمه‌هادی، این ترفندها رو یادتون باشه! 😁

منبع: +